[2Gおよび3G携帯電話放射にばく露したニワトリ胚の脳におけるDNA損傷のアルカリコメット解析技法を用いた評価] med./bio.

この研究は、第2世代（2G）およおび第3世代（3G）携帯電話から発せられる高周波（RF）電磁界への慢性ばく露が、ニワトリ胚の脳におけるDNA損傷を生じるかどうかを調べた。受精卵をばく露群A（2G放射にばく露、72分間／日、24個）、ばく露群B（3G放射にばく露、72分間／日、24個）、擬似ばく露対照群C（24個）に割り付けた。ばく露終了後、9-12日目のニワトリ胚から脳を摘出し、アルカリコメット解析でDNA損傷を評価した。結果を一元配置分散分析（ANOVA）で比較した。その結果、2Gおよび3G放射にばく露したニワトリ胚の脳では、平均コメット長（p < 0.001）、平均テイル長（p < 0.001）、平均DNAテイルパーセンテージ（p < 0.001）および平均テイルモーメント（p < 0.01）の増加が認められ、DNA損傷の増加が示唆された。この変化は3Gばく露群でより顕著であった、と著者らは結論付けている。